One Shot Mode - Interrupt Mode
该示例通过使用 ADC 单次采样模式进行电压检测。
该示例通过中断的方式检测 P2_7 的输入电压。当 ADC 单次采样完成时触发中断,在中断函数内读取 ADC 采样数据 raw data 并进行电压转换计算。
该示例中可通过配置宏 ADC_MODE_DIVIDE_OR_BYPASS
选择 ADC 的电压采样范围。
该示例中可通过配置宏 ADC_DATA_HW_AVERAGE
选择是否开启 Hardware Average 功能。
该示例中可通过配置宏 ADC_DATA_OUTPUT_TO_FIFO
选择 ADC 采样数据是否存入 FIFO 内。
环境需求
该示例支持以下开发套件:
Hardware Platforms |
Board Name |
---|---|
RTL8752H HDK |
RTL8752H EVB |
更多信息请参考 快速入门。
硬件连线
连接 P2_7 至外部电压输入。
配置选项
该示例可配置的宏如下:
ADC_MODE_DIVIDE_OR_BYPASS
:配置该宏可选择 ADC 的电压采样范围,可选择的值如下。ADC_DIVIDE_MODE
:在 Divide Mode 下,ADC 的采样电压值范围为 0~3.3V。ADC_BYPASS_MODE
:在 Bypass Mode 下,ADC 的采样电压值范围为 0~0.9V。
ADC_DATA_HW_AVERAGE
:配置该宏可开启 ADC 的 Hardware Average 功能。ADC_DATA_OUTPUT_TO_FIFO
:配置该宏可选择将 ADC 的采样数据存放至 ADC FIFO 内。
备注
Hardware Average 功能仅适用于 ADC 的通道 0。Hardware Average 功能与 Data Output to FIFO 功能不能同时开启。
编译和下载
该示例的工程路径如下:
Project file: board\evb\io_sample\ADC\OneShotMode\mdk
Project file: board\evb\io_sample\ADC\OneShotMode\gcc
请按照以下步骤操作构建并运行该示例:
打开工程文件。
按照 快速入门 中 编译 APP Image 给出的步骤构建目标文件。
编译成功后,在路径
mdk\bin
或gcc\bin
下会生成 app binapp_MP_xxx.bin
文件。按下 reset 按键,开始运行。
测试验证
ADC 初始化配置:
若配置为
ADC_DIVIDE_MODE
,则会打印如下 log。[ADC] ADC sample mode is divide mode !
若配置为
ADC_BYPASS_MODE
,则会打印如下 log。[ADC] ADC sample mode is bypass mode !
ADC 采样结束后,会在 Debug Analyzer 工具内打印采集得到的 raw data 和转换后的电压值。
[io_adc] io_adc_voltage_calculate: ADC rawdata = xxx, voltage = xxxmV ...
代码介绍
该章节分为以下几个部分:
源码路径
工程路径:
sdk\board\evb\io_sample\ADC\OneShotMode
源码路径:
sdk\src\sample\io_sample\ADC\OneShotMode
该工程的工程文件代码结构如下:
└── Project: adc_oneshot
└── secure_only_app
└── include
├── app_define.h
└── rom_uuid.h
├── cmsis includes CMSIS header files and startup files
├── overlay_mgr.c
├── system_rtl876x.c
└── startup_rtl876x.s
├── lib includes all binary symbol files that user application is built on
├── rtl8752h_sdk.lib
├── gap_utils.lib
├── ROM.lib
└── adc.lib
├── peripheral includes all peripheral drivers and module code used by the application
├── rtl876x_rcc.c
├── rtl876x_pinmux.c
├── rtl876x_nvic.c
└── rtl876x_adc.c
├── profile
└── app includes the ble_peripheral user application implementation
├── main.c
├── ancs.c
├── app.c
├── app_task.c
└── io_adc.c
初始化
当 EVB 复位启动时,调用 main()
函数,将执行以下流程:
int main(void)
{
extern uint32_t random_seed_value;
srand(random_seed_value);
global_data_init();
board_init();
le_gap_init(APP_MAX_LINKS);
gap_lib_init();
app_le_gap_init();
app_le_profile_init();
pwr_mgr_init();
task_init();
os_sched_start();
return 0;
}
备注
le_gap_init()
,gap_lib_init()
,app_le_gap_init
,app_le_profile_init
等为 privacy 管理模块相关的初始化,参考 LE Peripheral Privacy 中的初始化流程介绍。
与外设相关的初始化流程具体如下:
在
global_data_init
中,执行global_data_adc_init
,该函数为全局初始化,包含如下流程:执行
ADC_CalibrationInit()
函数进行 ADC 校准。若返回值为 false,则 ADC 校准失败,可能是因为该 IC 未经 FT 导致,因此无法准确得到电压值。初始化全局变量
ADC_Global_Data
。
void global_data_adc_init(void) { /* Initialize adc k value! */ APP_PRINT_INFO0("[io_adc] global_data_adc_init"); bool adc_k_status = false; adc_k_status = ADC_CalibrationInit(); if (false == adc_k_status) { APP_PRINT_ERROR0("[io_adc] global_data_adc_init: ADC_CalibrationInit fail!"); } memset(&ADC_Global_Data, 0, sizeof(ADC_Global_Data)); }
在
board_init
中,执行board_adc_init
,该函数为 PAD/PINMUX 设置,包含如下流程:配置 PAD:设置引脚、SW 模式、PowerOn、无内部上拉、输出失能。
在执行
os_sched_start()
开启任务调度后,在app_main_task
主任务内,执行driver_init
对外设驱动进行初始化配置。在
driver_init
中执行driver_adc_init
,该函数为 ADC 外设的初始化,包含如下流程:使能 RCC 时钟。
配置 ADC 的采样通道,配置通道 0 为 P2_7 单端模式,设置 Bitmap 为 0x01。
若开启 Bypass Mode,执行函数
ADC_BypassCmd()
开启对应引脚的 Bypass 模式。若开启宏
ADC_DATA_HW_AVERAGE
,使能 ADC Hardware Average 模式,配置平均次数。若开启宏
ADC_DATA_OUTPUT_TO_FIFO
,使能 ADC 采样值存入 FIFO,配置 FIFO 阈值。若开启宏
ADC_DATA_OUTPUT_TO_FIFO
,配置ADC_INT_FIFO_THD
中断,否则配置ADC_INT_ONE_SHOT_DONE
中断。
void driver_adc_init(void) { RCC_PeriphClockCmd(APBPeriph_ADC, APBPeriph_ADC_CLOCK, ENABLE); ADC_InitTypeDef ADC_InitStruct; ADC_StructInit(&ADC_InitStruct); /* Configure the ADC sampling schedule0 */ ADC_InitStruct.ADC_SchIndex[0] = EXT_SINGLE_ENDED(ADC_SAMPLE_CHANNEL_7); /* Set the bitmap corresponding to schedule0*/ ADC_InitStruct.ADC_Bitmap = 0x01; #if (ADC_DATA_HW_AVERAGE && ADC_DATA_OUTPUT_TO_FIFO) APP_PRINT_ERROR0("[io_adc] driver_adc_init: ADC config error !"); #elif (ADC_DATA_HW_AVERAGE ) ADC_InitStruct.ADC_DataAvgEn = ADC_DATA_AVERAGE_ENABLE; ADC_InitStruct.ADC_DataAvgSel = ADC_DATA_AVERAGE_OF_4; #elif (ADC_DATA_OUTPUT_TO_FIFO) ADC_InitStruct.ADC_DataWriteToFifo = ADC_DATA_WRITE_TO_FIFO_ENABLE; ADC_InitStruct.ADC_FifoThdLevel = 0x0A; #endif ADC_InitStruct.ADC_PowerAlwaysOnEn = ADC_POWER_ALWAYS_ON_ENABLE; /* Fixed 255 in OneShot mode. */ ADC_InitStruct.ADC_SampleTime = 255; ADC_Init(ADC, &ADC_InitStruct); #if (ADC_MODE_DIVIDE_OR_BYPASS == ADC_BYPASS_MODE) /* High bypass resistance mode config, please notice that the input voltage of adc channel using high bypass mode should not be over 0.9V */ ADC_BypassCmd(ADC_SAMPLE_CHANNEL_0, ENABLE); APP_PRINT_INFO0("[io_adc] driver_adc_init: ADC sample mode is bypass mode !"); #else ADC_BypassCmd(ADC_SAMPLE_CHANNEL_0, DISABLE); APP_PRINT_INFO0("[io_adc] driver_adc_init: ADC sample mode is divide mode !"); #endif #if (!ADC_DATA_OUTPUT_TO_FIFO) ADC_INTConfig(ADC, ADC_INT_ONE_SHOT_DONE, ENABLE); #else ADC_INTConfig(ADC, ADC_INT_FIFO_THD, ENABLE); #endif NVIC_InitTypeDef NVIC_InitStruct; NVIC_InitStruct.NVIC_IRQChannel = ADC_IRQn; NVIC_InitStruct.NVIC_IRQChannelPriority = 3; NVIC_InitStruct.NVIC_IRQChannelCmd = ENABLE; NVIC_Init(&NVIC_InitStruct); }
功能实现
执行
os_sched_start()
,开启任务调度。当 stack 准备好时,执行app_handle_dev_state_evt
,执行adc_sample_start
开启 ADC 采样。若开启宏
ADC_DATA_OUTPUT_TO_FIFO
,清空 ADC FIFO,然后连续进行十次 ADC 采样。若未开启宏
ADC_DATA_OUTPUT_TO_FIFO
,直接执行ADC_Cmd()
,开始 ADC 采样。
void app_handle_dev_state_evt(T_GAP_DEV_STATE new_state, uint16_t cause) { ... if (gap_dev_state.gap_init_state != new_state.gap_init_state) { if (new_state.gap_init_state == GAP_INIT_STATE_STACK_READY) { APP_PRINT_INFO0("GAP stack ready"); /*stack ready*/ adc_sample_start(); } } ... } void adc_sample_start(void) { #if (ADC_DATA_OUTPUT_TO_FIFO) ADC_ClearFifo(ADC); for (uint16_t i = 0; i < 10; i++) { ADC_Cmd(ADC, ADC_ONE_SHOT_MODE, ENABLE); platform_delay_ms(10); } #else /* Enable adc sample */ ADC_Cmd(ADC, ADC_ONE_SHOT_MODE, ENABLE); #endif }
若开启宏
ADC_DATA_OUTPUT_TO_FIFO
,当 ADC FIFO 数目超过设定阈值时,触发ADC_INT_FIFO_THD
中断,进入中断处理函数ADC_Handler
。判断 ADC FIFO 数目超过给定值的中断状态是否为 SET。
执行
ADC_GetFIFODataLen()
获取 ADC FIFO 内的数据量,执行ADC_ReadFIFOData()
获取 ADC FIFO 内数据。定义消息类型
IO_MSG_TYPE_ADC
,保存采集数据至全局变量,执行app_send_msg_to_apptask
发送 msg 给 task。执行
ADC_ClearFIFO()
清空 ADC FIFO 内数据,清除中断标志位。
void ADC_Handler(void) { ... if (ADC_GetIntFlagStatus(ADC, ADC_INT_FIFO_THD) == SET) { ADC_Global_Data.RawDataLen = ADC_GetFifoLen(ADC); ADC_GetFifoData(ADC, ADC_Global_Data.RawData, ADC_Global_Data.RawDataLen); /* Send msg to app task */ T_IO_MSG int_adc_msg; int_adc_msg.type = IO_MSG_TYPE_ADC; int_adc_msg.u.buf = (void *)(&ADC_Global_Data); if (false == app_send_msg_to_apptask(&int_adc_msg)) { APP_PRINT_ERROR0("[io_adc] ADC_Handler: Send int_adc_msg failed!"); //Add user code here! ADC_ClearFifo(ADC); ADC_ClearINTPendingBit(ADC, ADC_INT_FIFO_THD); return; } ADC_ClearINTPendingBit(ADC, ADC_INT_FIFO_THD); ADC_ClearFifo(ADC); } }
若未开启宏
ADC_DATA_OUTPUT_TO_FIFO
,当 ADC 完成单次采样时,触发ADC_INT_ONE_SHOT_DONE
中断,进入中断处理函数ADC_Handler
。判断 ADC 单次采样中断状态是否为 SET,清除中断标志位。
执行
ADC_ReadRawData()
读取 ADC 采样值。定义消息类型
IO_MSG_TYPE_ADC
,保存采集数据至全局变量,执行app_send_msg_to_apptask
发送 msg 给 task。
void ADC_Handler(void) { ... if (ADC_GetINTStatus(ADC, ADC_INT_ONE_SHOT_DONE) == SET) { ADC_ClearINTPendingBit(ADC, ADC_INT_ONE_SHOT_DONE); uint16_t sample_data = 0; sample_data = ADC_ReadRawData(ADC, ADC_Schedule_Index_0); T_IO_MSG int_adc_msg; int_adc_msg.type = IO_MSG_TYPE_ADC; int_adc_msg.subtype = 0; ADC_Global_Data.RawDataLen = 1; ADC_Global_Data.RawData[0] = sample_data; int_adc_msg.u.buf = (void *)(&ADC_Global_Data); if (false == app_send_msg_to_apptask(&int_adc_msg)) { APP_PRINT_ERROR0("[io_adc] ADC_Handler: Send int_adc_msg failed!"); //Add user code here! ADC_ClearINTPendingBit(ADC, ADC_INT_ONE_SHOT_DONE); return; } } ... }
在
app_main_task
中循环检测消息队列。当检测到 msg 时,执行app_handle_io_msg
函数对 msg 进行处理。在
app_handle_io_msg
函数中,若判断消息类型为IO_MSG_TYPE_GDMA
,执行io_handle_adc_msg
函数,执行io_adc_voltage_calculate
。从 msg 中取出采样数据。
若开启宏
ADC_DATA_HW_AVERAGE
,则需要分别计算整数部分与小数部分的采样值。执行
ADC_GetVoltage()
,根据采样模式计算采样电压值并打印。
备注
ADC Hardware Average 模式得到的 raw data ,低 2 位为小数部分,高 12 位为整数部分。
static void io_adc_voltage_calculate(T_IO_MSG *io_adc_msg) { ADC_Data_TypeDef *p_buf = io_adc_msg->u.buf; uint8_t sample_data_len = 0; uint16_t sample_data = 0; sample_data_len = p_buf->RawDataLen; for (uint8_t i = 0; i < sample_data_len; i++) { sample_data = p_buf->RawData[i]; DBG_DIRECT("io_adc_voltage_calculate: raw_data = 0x%X", sample_data); #if (ADC_DATA_HW_AVERAGE ) sample_data = (p_buf->RawData[i] & 0x3FFC) >> 2; uint16_t sample_data_decimal = (p_buf->RawData[i] & 0x3); float cacl_result = sample_data; float cacl_result_dec = 0; cacl_result_dec = (float)(sample_data_decimal & 0x1) / 2 + (float)((sample_data_decimal >> 1) & 0x1) / 4; cacl_result += cacl_result_dec; DBG_DIRECT("io_adc_voltage_calculate: sample_data = %d, cacl_result = %d\r\n", sample_data, (uint32_t)cacl_result); #endif float sample_voltage = 0; ADC_ErrorStatus error_status = NO_ERROR; #if (ADC_MODE_DIVIDE_OR_BYPASS == ADC_BYPASS_MODE) sample_voltage = ADC_GetVoltage(BYPASS_SINGLE_MODE, (int32_t)sample_data, &error_status); #else sample_voltage = ADC_GetVoltage(DIVIDE_SINGLE_MODE, (int32_t)sample_data, &error_status); #endif if (error_status < 0) { APP_PRINT_INFO1("[io_adc] io_adc_voltage_calculate: ADC parameter or efuse data error! error_status = %d", error_status); } else { APP_PRINT_INFO2("[io_adc] io_adc_voltage_calculate: ADC rawdata = %d, voltage = %dmV ", sample_data, (uint32_t)sample_voltage); } } memset(&ADC_Global_Data, 0, sizeof(ADC_Global_Data)); }
常见问题
若拿到的 IC 未经过 FT 校验,ADC 则无法转换为正确的电压值。在 log 工具内会打印如下信息。
[ADC]ADC_CalibrationInit fail!
若 ADC 采样值不正确,则会打印错误状态信息。
ADC parameter or efuse data error! i = xxx, error_status = xxx