One Shot Interrupt

该示例通过使用 ADC 单次采样中断模式进行电压检测。

示例中可以用宏 ADC_DATA_OUTPUT_TO_FIFO 去配置是否将ADC采样值存入FIFO中。

示例中可用宏去配置ADC的采样电压范围，包含了Divide Mode和Bypass Mode。

当ADC采样完成时，触发 ADC_INT_ONE_SHOT_DONE 或 ADC_INT_FIFO_THD 中断，在中断函数内读取raw data并进行电压转换计算。

环境需求

该示例支持以下开发套件：

开发套件
Hardware Platforms	Board Name
RTL87x2G HDK	RTL87x2G EVB

更多信息请参考快速入门。

硬件连线

使用杜邦线短接P2_4和外部输入电压。

配置选项

该示例可配置的宏如下：

ADC_DATA_OUTPUT_TO_FIFO ：配置该宏可选择ADC的采样值是否存入FIFO中， 1 表示ADC采样数据存入FIFO中， 0 表示ADC数据存入Schedule Table中。
ADC_MODE_DIVIDE_OR_BYPASS ：配置该宏可选择ADC的电压采样范围，可选择的值如下：
- ADC_DIVIDE_MODE ：在Divide Mode下，ADC的采样电压值范围为0~3.3V
- ADC_BYPASS_MODE ：在Bypass Mode下，ADC的采样电压值范围为0~0.9V

编译和下载

该示例的工程路径如下:

Keil

Project file: samples\peripheral\adc\oneshot_interrupt\proj\rtl87x2g\mdk

GCC

Project file: samples\peripheral\adc\oneshot_interrupt\proj\rtl87x2g\gcc

请按照以下步骤操作构建并运行该示例:

打开工程文件。
按照快速入门中编译APP Image 给出的步骤构建目标文件。
编译成功后，在路径 mdk\bin 或 gcc\bin 下会生成 app bin app_MP_xxx.bin 文件。
按照快速入门中 MP Tool 给出的步骤将app bin烧录至EVB内。
按下复位按键，开始运行。

测试验证

EVB启动后，在Debug Analyzer工具内观察log：
```
Start ADC interrupt test!
```
ADC初始化配置：
1. 若配置为 ADC_DIVIDE_MODE ，则会打印如下log：
```
[ADC]ADC sample mode is divide mode !
```
2. 若配置为 ADC_BYPASS_MODE ，则会打印如下log：
```
[ADC]ADC sample mode is bypass mode !
```

ADC采样后，在中断函数内打印采样得到的rawdata和转换后的电压值。

into SAR_ADC_Handler
[ADC] adc_sample_demo: ADC one shot mode sample data = xxx, voltage = xxx mV
...

代码介绍

该章节分为以下几个部分：

源码路径。
初始化函数将在初始化章节介绍。
初始化后的功能实现将在功能实现章节介绍。

源码路径

工程路径: sdk\samples\peripheral\adc\oneshot_interrupt\proj
源码路径: sdk\samples\peripheral\adc\oneshot_interrupt\src

该工程的工程文件代码结构如下：

└── Project: oneshot_interrupt
    └── secure_only_app
        └── Device                   includes startup code
            ├── startup_rtl.c
            └── system_rtl.c
        ├── CMSIS                    includes CMSIS header files
        ├── CMSE Library             Non-secure callable lib
        ├── Lib                      includes all binary symbol files that user application is built on
            └── rtl87x2g_io.lib
        ├── Peripheral               includes all peripheral drivers and module code used by the application
            ├── rtl_rcc.c
            ├── rtl_pinmux.c
            ├── rtl_nvic.c
            └── rtl_adc.c
        └── APP                      includes the ble_peripheral user application implementation
            ├── main_ns.c
            └── io_adc.c

初始化

初始化流程包括了 board_adc_init 和 driver_adc_init 。

board_adc_init 中包含了PAD设置。

配置PAD：设置引脚、SW模式、PowerOn、无内部上拉、输出失能、输出低。

driver_adc_init 包含了对ADC外设的初始化。

使能PCC时钟。
配置ADC的采样通道，配置通道0为P2_4单端模式，设置Bitmap为0x01。
若开启宏 ADC_DATA_OUTPUT_TO_FIFO ，设置 ADC_DataWriteToFifo 为ENABLE，设置FIFO Threshold Level。
若开启Bypass Mode，执行函数 ADC_BypassCmd() 开启对应引脚的Bypass模式。
配置ADC中断
- 若开启宏 ADC_DATA_OUTPUT_TO_FIFO ，配置 ADC_INT_FIFO_THD 中断。
- 若未开启宏 ADC_DATA_OUTPUT_TO_FIFO ，配置 ADC_INT_ONE_SHOT_DONE 中断。

  RCC_PeriphClockCmd(APBPeriph_ADC, APBPeriph_ADC_CLOCK, ENABLE);
  ...
  /* Configure the ADC sampling schedule0 */
  ADC_InitStruct.ADC_SchIndex[0]      = EXT_SINGLE_ENDED(ADC_SAMPLE_CHANNEL);
  /* Set the bitmap corresponding to schedule0*/
  ADC_InitStruct.ADC_Bitmap           = 0x01;

#if (ADC_DATA_OUTPUT_TO_FIFO)
  ADC_InitStruct.ADC_DataWriteToFifo  = ENABLE;
  ADC_InitStruct.ADC_FifoThdLevel     = 0x0A;
#endif
  ...
#if (!ADC_DATA_OUTPUT_TO_FIFO)
  ADC_INTConfig(ADC, ADC_INT_ONE_SHOT_DONE, ENABLE);
#else
  ADC_INTConfig(ADC, ADC_INT_FIFO_THD, ENABLE);
#endif

功能实现

若开启宏 ADC_DATA_OUTPUT_TO_FIFO ，在ADC采样前执行 ADC_ClearFIFO() 清空ADC FIFO内数据。
循环执行 ADC_Cmd() ，开始ADC采样。
ADC采样完成后，触发ADC中断，在ADC中断函数内对采样数据进行处理。
若开启宏 ADC_DATA_OUTPUT_TO_FIFO ，则触发的ADC中断为 ADC_INT_FIFO_THD ，执行 ADC_GetFIFODataLen() 读取FIFO中数据长度，执行 ADC_ReadFIFOData() 函数读取FIFO内数据。
若未开启宏 ADC_DATA_OUTPUT_TO_FIFO ，执行 ADC_ReadRawData() 函数，读取ADC采样数据。
执行 ADC_GetVoltage() 函数，将采样数据转换为电压值。
若开启宏 ADC_DATA_OUTPUT_TO_FIFO ，在数据处理后执行 ADC_ClearFIFO() 清空ADC FIFO内数据。

#if (!ADC_DATA_OUTPUT_TO_FIFO)
  while (ADC_GetINTStatus(ADC, ADC_INT_ONE_SHOT_DONE) == RESET) {}
  ADC_ClearINTPendingBit(ADC, ADC_INT_ONE_SHOT_DONE);
  ...
  sample_data[i] = ADC_ReadRawData(ADC, ADC_Schedule_Index_0 + i);
  sample_voltage[i] = ADC_GetVoltage(DIVIDE_SINGLE_MODE, (int32_t)sample_data[i], &error_status);

#else
  if (ADC_GetINTStatus(ADC, ADC_INT_FIFO_THD) == SET)
  {
    uint16_t data_len = ADC_GetFIFODataLen(ADC);
    ADC_ReadFIFOData(ADC, sample_data, data_len);
    for (uint8_t i = 0; i < data_len; i++)
    {
        sample_voltage[i] = ADC_GetVoltage(DIVIDE_SINGLE_MODE, (int32_t)sample_data[i], &error_status);
    }
    ...
    ADC_ClearFIFO(ADC);
  }
#endif

常见问题

若拿到的IC未经过FT校验，ADC则无法转换为正确的电压值。在log工具内会打印如下信息。
```
[ADC]ADC_CalibrationInit fail!
```

若ADC采样值不正确，则会打印错误状态信息。

[ADC]adc_sample_demo: ADC parameter or efuse data error! i = xxx, error_status = xxx